A、對(duì)比度
B、清晰度
C、靈敏度
D、以上都對(duì)
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A.0.8%
B.1.6%
C.2.4%
D.3.2%
A.源的強(qiáng)度
B.源的物理尺寸
C.源的種類
D.源的活度
A.橫軸為管電壓,縱軸為時(shí)間,以曝光量為參數(shù)
B.橫軸為管電流,縱軸為管電壓,以曝光時(shí)間為參數(shù)
C.a和b都是
D.a和b都不是
A.37年
B.5.6年
C.75天
D.以上都不對(duì)
A.2.3mm
B.1.5mm
C.4.1mm
D.以上都不對(duì)
最新試題
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。