單項(xiàng)選擇題與γ源的半衰期有關(guān)的因素是()。

A.源的強(qiáng)度
B.源的物理尺寸
C.源的種類
D.源的活度


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1.單項(xiàng)選擇題X射線曝光曲線正確的形式是()。

A.橫軸為管電壓,縱軸為時(shí)間,以曝光量為參數(shù)
B.橫軸為管電流,縱軸為管電壓,以曝光時(shí)間為參數(shù)
C.a和b都是
D.a和b都不是

2.單項(xiàng)選擇題銫137的半衰期大約是()。

A.37年
B.5.6年
C.75天
D.以上都不對(duì)

4.單項(xiàng)選擇題目前工業(yè)X射線實(shí)時(shí)成像系統(tǒng)的X射線轉(zhuǎn)換器件是()。

A.熒光屏
B.輸入屏+圖像增強(qiáng)器+CCD
C.CMOS成像器
D.以上都是

最新試題

當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。

題型:單項(xiàng)選擇題

檢測靈敏度太高和太低對(duì)檢測都不利。靈敏度太低,()。

題型:單項(xiàng)選擇題

測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。

題型:單項(xiàng)選擇題

在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。

題型:單項(xiàng)選擇題

用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。

題型:單項(xiàng)選擇題

利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。

題型:單項(xiàng)選擇題

移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。

題型:單項(xiàng)選擇題

儀器水平線性影響()。

題型:單項(xiàng)選擇題

單探頭法容易檢出()。

題型:單項(xiàng)選擇題

調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。

題型:單項(xiàng)選擇題