單項(xiàng)選擇題板厚16mm的對(duì)接焊縫,其余高之和為4mm,經(jīng)X光攝片,在底片上能識(shí)別的像質(zhì)計(jì)最小線徑為0.32mm,則探傷的相對(duì)靈敏度為()。

A.0.8%
B.1.6%
C.2.4%
D.3.2%


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1.單項(xiàng)選擇題與γ源的半衰期有關(guān)的因素是()。

A.源的強(qiáng)度
B.源的物理尺寸
C.源的種類
D.源的活度

2.單項(xiàng)選擇題X射線曝光曲線正確的形式是()。

A.橫軸為管電壓,縱軸為時(shí)間,以曝光量為參數(shù)
B.橫軸為管電流,縱軸為管電壓,以曝光時(shí)間為參數(shù)
C.a和b都是
D.a和b都不是

3.單項(xiàng)選擇題銫137的半衰期大約是()。

A.37年
B.5.6年
C.75天
D.以上都不對(duì)

5.單項(xiàng)選擇題目前工業(yè)X射線實(shí)時(shí)成像系統(tǒng)的X射線轉(zhuǎn)換器件是()。

A.熒光屏
B.輸入屏+圖像增強(qiáng)器+CCD
C.CMOS成像器
D.以上都是

最新試題

利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

直接接觸法是指探頭與工件之間()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題