探傷工藝規(guī)程編制應(yīng)對(duì)受檢工件的（）做好記錄。

在橫波探傷中，探頭K值對(duì)探傷（）有較大的影響。

探傷中如遇焊補(bǔ)層下異?；夭刹扇。ǎ┑确椒ㄟM(jìn)行校對(duì)。

為了提高探傷結(jié)果的可靠性，探傷前應(yīng)對(duì)被檢工件的（）和形成規(guī)律以及受檢部位的受力方向等進(jìn)行調(diào)查。

探傷中采用軌頭側(cè)面校對(duì)法，它主要適用于（）的校對(duì)。

金相也可通過(guò)掃描電子顯微鏡、透射電子顯微鏡直接獲得，他們主要是用來(lái)觀察材料的位錯(cuò)，放大倍數(shù)一般為（）倍。

垂直法探傷時(shí)，對(duì)要求不太高的工件常采用局部法進(jìn)行掃查，局部法掃查一般分為（）。

探傷工藝規(guī)程編制的內(nèi)容有很多，其中包括（）。

探傷中對(duì)工件材料的（）有一定的要求。

垂直法局部掃查即探頭在整個(gè)面上按規(guī)定，并事先劃出的線上移動(dòng)，相鄰掃查線的間距往往（）探頭直徑。