A、中央處理器
B、存儲(chǔ)器
C、存儲(chǔ)程序
D、以上都不對(duì)
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A、數(shù)據(jù)
B、波形
C、信號(hào)
D、模擬信號(hào)
A、變換
B、回放
C、處理
D、抑制
A、10%
B、20%
C、5%
D、30%
A、強(qiáng)
B、弱
C、通常
D、可調(diào)
A、CSK-1A
B、CS-1-5
C、GHT-5
D、WGT-3
最新試題
探傷中如遇焊補(bǔ)層下異?;夭刹扇。ǎ┑确椒ㄟM(jìn)行校對(duì)。
垂直法探傷時(shí),對(duì)要求不太高的工件常采用局部法進(jìn)行掃查,局部法掃查一般分為()。
在超聲波探傷中當(dāng)工件聲衰減很小、試件的厚度較大時(shí),如果重復(fù)頻率過(guò)高,儀器可能會(huì)產(chǎn)生()
鋼軌探傷車要求嚴(yán)格執(zhí)行()的有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)及規(guī)定,合理設(shè)置檢測(cè)參數(shù),動(dòng)態(tài)保持良好耦合,確保取得可靠的檢測(cè)數(shù)據(jù)。
探傷中遇鋼軌焊補(bǔ)時(shí),執(zhí)機(jī)人員必須“站??床ā痹诒3炙砍渥愕那闆r下,探傷靈敏度應(yīng)提高()。
在橫波探傷中,探頭K值對(duì)探傷()有較大的影響。
探傷工技師對(duì)設(shè)備調(diào)整中的()的相關(guān)知識(shí)應(yīng)了解。
根據(jù)接頭鋼軌下顎裂紋形成的原因,可知其具有從()逐步擴(kuò)展的特點(diǎn)。
剝離層下核傷可采用軌顎法進(jìn)行校對(duì),用軌顎校對(duì)法校對(duì)時(shí),需在鋼軌表面校對(duì)的靈敏度的基礎(chǔ)上增加()。
使用雙探頭掃查時(shí),如盲目改變掃查方向,將會(huì)導(dǎo)致()。