垂直法探傷時(shí)，對(duì)要求不太高的工件常采用局部法進(jìn)行掃查，局部法掃查一般分為（）。

由于各種試件的結(jié)構(gòu)、質(zhì)量要求不同，可能缺陷的（）不一樣，因而探測(cè)面可能是試件的所有面，也可能是其中的幾個(gè)面，甚至只有一個(gè)可探測(cè)面。

超聲波探傷探頭的型式一般有（）等。

為了提高探傷結(jié)果的可靠性，探傷前應(yīng)對(duì)被檢工件的（）和形成規(guī)律以及受檢部位的受力方向等進(jìn)行調(diào)查。

耦合劑應(yīng)選擇容易附著在試件的表面上，有足夠的浸潤(rùn)性以排除（）之間由于表面粗糙造成的空氣間隙。

探傷中探頭晶片尺寸增加，相應(yīng)的（）對(duì)探傷有利。

探傷工藝規(guī)程編制的內(nèi)容有很多，其中包括（）。

采用兩個(gè)斜探頭（一收一發(fā)）交叉（）的掃查方式叫做交叉掃查。

焊縫探傷中斜探頭K值的選擇原則是（）。

探傷工藝規(guī)程編制應(yīng)對(duì)受檢工件的（）做好記錄。