A.上四分位數(shù)減下四分位數(shù)的結(jié)果
B.下四分位數(shù)減上四分位數(shù)的結(jié)果
C.下四分位數(shù)加上四分位數(shù)
D.下四分位數(shù)與上四分位數(shù)的中間值
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.統(tǒng)計(jì)表不用豎線和斜線分隔表、標(biāo)目和數(shù)據(jù)
B.統(tǒng)計(jì)表的標(biāo)題放在表的上方
C.統(tǒng)計(jì)表包含的內(nèi)容越多越好
D.統(tǒng)計(jì)表中的數(shù)字按小數(shù)點(diǎn)位對(duì)齊
A.簡(jiǎn)單算術(shù)平均法
B.加權(quán)算術(shù)平均法
C.加權(quán)調(diào)和平均法
D.幾何平均法
A.均值小的,離散程度大
B.均值大的,離散程度大
C.均值小的,離散程度小
D.兩組數(shù)據(jù)的離散程度相同
A.全距
B.四分位間距
C.標(biāo)準(zhǔn)差
D.變異系數(shù)
A.一組數(shù)據(jù)可能存在多個(gè)眾數(shù)
B.眾數(shù)主要適用于分類數(shù)據(jù)
C.一組數(shù)據(jù)的眾數(shù)是唯一的
D.眾數(shù)不受極端值的影響
最新試題
卡方檢驗(yàn)通常被用在()、()。
列聯(lián)表是()變量進(jìn)行交叉分類的頻數(shù)分布表,它包含有()頻數(shù)和()頻數(shù)。卡方檢驗(yàn)通常被用來檢驗(yàn)列聯(lián)表()。
最小二乘法預(yù)測(cè)模型包括()、()和()。
假設(shè)檢驗(yàn)中的兩類錯(cuò)誤為()和() 。對(duì)于一定的樣本量n,()同時(shí)做到減小犯這兩種錯(cuò)誤的概率。
在實(shí)際問題中,當(dāng)我們無法區(qū)分在區(qū)間[a,b]內(nèi)取值的隨機(jī)變量X取不同值的可能性有何不同時(shí),我們就可以假定X服從[a,b]上的()。
小樣本一般是指()。
有趨勢(shì)的時(shí)間序列預(yù)測(cè)應(yīng)用()和()。
相關(guān)系數(shù)是()之間關(guān)系密切程度的度量,對(duì)兩個(gè)變量之間()的度量稱為簡(jiǎn)單相關(guān)系數(shù)。
點(diǎn)估計(jì)的評(píng)價(jià)準(zhǔn)則包括()、()和()等。
影響時(shí)間序列的因素包括()、()、()和()。