A.表面波全反射
B.橫波45°
C.表面波
D.以上都不對
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A.14.7°
B.17°
C.20°
D.不成立
A.27.5°
B.45°
C.50°
D.不成立
A.入射縱波軸線與通過入射點(diǎn)法線的夾角
B.入射橫波軸線與通過入射點(diǎn)法線的夾角
C.傾斜晶片與探測面的夾角
D.入射波軸線與界面的夾角
A.36°
B.24°
C.30°
D.45°
A.界面聲阻抗
B.楊氏模具
C.泊松比
D.折射率
最新試題
探頭延檢測面水平移動,超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
實(shí)際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
調(diào)節(jié)時基線時,應(yīng)使()同時對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
利用底波計算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時,適用的工件厚度為()。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
單探頭法容易檢出()。
利用底波計算法校準(zhǔn)靈敏度時,下面敘述中()是錯誤的。