A.14.7°
B.17°
C.20°
D.不成立
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A.27.5°
B.45°
C.50°
D.不成立
A.入射縱波軸線(xiàn)與通過(guò)入射點(diǎn)法線(xiàn)的夾角
B.入射橫波軸線(xiàn)與通過(guò)入射點(diǎn)法線(xiàn)的夾角
C.傾斜晶片與探測(cè)面的夾角
D.入射波軸線(xiàn)與界面的夾角
A.36°
B.24°
C.30°
D.45°
A.界面聲阻抗
B.楊氏模具
C.泊松比
D.折射率
A.入射角
B.折射角
C.擴(kuò)散角
D.反射角
最新試題
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來(lái)表征。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
儀器水平線(xiàn)性影響()。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。