A.分光晶體
B.棱鏡
C.中階梯光柵
D.凹面光柵
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A.工作曲線
B.分析試樣
C.標(biāo)準(zhǔn)化樣品
D.標(biāo)準(zhǔn)樣品
A.工作曲線
B.類型曲線
C.拋物線
D.對(duì)數(shù)線
A.類型標(biāo)準(zhǔn)化
B.儀器標(biāo)準(zhǔn)化
C.零點(diǎn)標(biāo)準(zhǔn)化
D.狹縫校正
A.還原性
B.氧化性
C.礦物
D.爐渣
A.濾光元件
B.聚焦元件
C.感光元件
D.分光元件
最新試題
原子吸收光譜法的標(biāo)準(zhǔn)曲線的濃度范圍應(yīng)包括被測(cè)元素的含量范圍。
ICP-AES分析中的化學(xué)干擾,比起火焰原子吸收光譜或火焰原子發(fā)射光譜分析要輕微得多,因此化學(xué)干擾在ICP發(fā)射光譜分析中可以常常忽略不計(jì)。
ICPMS微波消解溶樣時(shí)開(kāi)啟微波消解罐時(shí)應(yīng)戴好手套和防護(hù)眼鏡。
原子熒光儀外表面可用濕抹布擦拭,但應(yīng)斷電,防止短路。
紅外碳硫儀中的紅外檢測(cè)池具有單一性,各紅外池間不可互相代用。
氧氮分析儀中稀土氧化銅的作用是將一氧化碳氧化為二氧化碳。
紅外碳硫儀中的二氧化碳紅外池可以用于對(duì)二氧化硫的檢測(cè)。
高頻感應(yīng)紅外線吸收法測(cè)定鐵合金中碳硫含量,批量分析時(shí)應(yīng)每測(cè)定一定數(shù)量樣品,插做一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣品,檢查儀器的線性是否漂移。
氧氮分析儀器長(zhǎng)期運(yùn)行和頻繁使用,儀器的各部件會(huì)發(fā)生老化和磨損,因此分析人員要定期檢查與維護(hù)儀器。
X射線熒光光譜玻璃熔片法中采用硝酸銨作為氧化劑,氧化劑只能以固體形式加入。