A.工作曲線
B.類(lèi)型曲線
C.拋物線
D.對(duì)數(shù)線
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.類(lèi)型標(biāo)準(zhǔn)化
B.儀器標(biāo)準(zhǔn)化
C.零點(diǎn)標(biāo)準(zhǔn)化
D.狹縫校正
A.還原性
B.氧化性
C.礦物
D.爐渣
A.濾光元件
B.聚焦元件
C.感光元件
D.分光元件
A.粒度效應(yīng)
B.礦物效應(yīng)
C.分子效應(yīng)
D.俄歇效應(yīng)
A.入射狹縫
B.出射狹縫
C.分光晶體
D.探測(cè)器
最新試題
鋼鐵中碳分析,如果采用常規(guī)化學(xué)方法,需要隨同試料做空白試驗(yàn)。
X射線熒光光譜分析中,含吸附水的樣品會(huì)影響抽真空的效果,導(dǎo)致分析延時(shí)。
直讀光譜分析中檢查激發(fā)放電斑點(diǎn),凝聚放電是好的,擴(kuò)散放電是不好的。
ICPMS微波消解溶樣時(shí)開(kāi)啟微波消解罐時(shí)應(yīng)戴好手套和防護(hù)眼鏡。
原子吸收光譜法的標(biāo)準(zhǔn)曲線的濃度范圍應(yīng)包括被測(cè)元素的含量范圍。
碳硫分析儀器短期或長(zhǎng)期不使用時(shí),應(yīng)間隔一段時(shí)間,開(kāi)一次機(jī)。
X射線熒光光譜儀長(zhǎng)時(shí)間停用后,可以直接調(diào)整電壓和電流至工作電壓和電流。
選用ICP-AES分析鎳鐵中砷時(shí),使用標(biāo)準(zhǔn)加入法可以不進(jìn)行背景校正。
原子吸收光譜法測(cè)定被測(cè)元素,為了保證數(shù)據(jù)能夠上傳,必須將樣品編號(hào)輸完整。
ICP-AES分析中的化學(xué)干擾,比起火焰原子吸收光譜或火焰原子發(fā)射光譜分析要輕微得多,因此化學(xué)干擾在ICP發(fā)射光譜分析中可以常常忽略不計(jì)。