單項(xiàng)選擇題直讀光譜測量過程中，樣品的結(jié)構(gòu)組成會有差異，會導(dǎo)致結(jié)果測量發(fā)生偏差。這種情況可以使用（）進(jìn)行類型校正。
A.類型標(biāo)準(zhǔn)化
B.儀器標(biāo)準(zhǔn)化
C.零點(diǎn)標(biāo)準(zhǔn)化
D.狹縫校正
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
1.單項(xiàng)選擇題X射線熒光光譜法使用鉑金坩堝不能直接熔融含（）物質(zhì)的及化合物。
A.還原性
B.氧化性
C.礦物
D.爐渣
2.單項(xiàng)選擇題直讀光譜分析采用光柵作為（）
A.濾光元件
B.聚焦元件
C.感光元件
D.分光元件
3.單項(xiàng)選擇題在X射線熒光光譜法測定礦石分析中，由于同一元素間會以不同的價態(tài)、不同的結(jié)構(gòu)、不同的晶體存在。這種微觀上的差別無法用機(jī)械方法除去，這稱為（）
A.粒度效應(yīng)
B.礦物效應(yīng)
C.分子效應(yīng)
D.俄歇效應(yīng)
4.單項(xiàng)選擇題在樣品和晶體之間的準(zhǔn)直器，其作用是將樣品發(fā)射出的X射線熒光通過準(zhǔn)直器變?yōu)槠叫泄馐丈涞骄w，該準(zhǔn)直器又稱為（）
A.入射狹縫
B.出射狹縫
C.分光晶體
D.探測器
5.單項(xiàng)選擇題根據(jù)探測方法的不同，可將X熒光光譜儀分為波長色散光譜儀和（）兩大類。
A.能量色散光譜儀
B.電感耦合等離子體光譜儀
C.火花源原子發(fā)射光譜儀
D.原子吸收光譜儀
最新試題
從ICP-AES干擾原理出發(fā)，使用標(biāo)準(zhǔn)加入法可以有效地消除光譜干擾。
題型：判斷題
儀器結(jié)果保存時應(yīng)該分類，并按照年月日依次保存，不能重復(fù)命名，便于上傳時和以后查找。
題型：判斷題
原子熒光儀中檢測器與激發(fā)光源呈直角是為了消除激發(fā)光源對檢測原子熒光信號的干擾。
題型：判斷題
鋼鐵中碳分析，如果采用常規(guī)化學(xué)方法，需要隨同試料做空白試驗(yàn)。
題型：判斷題
選用ICP-AES分析鎳鐵中砷時，使用標(biāo)準(zhǔn)加入法可以不進(jìn)行背景校正。
題型：判斷題
X射線熒光光譜法玻璃熔片法測量爐渣時，可以使用純氧化物配比建立工作曲線。
題型：判斷題
碳硫分析儀器短期或長期不使用時，應(yīng)間隔一段時間，開一次機(jī)。
題型：判斷題
金屬的直讀光譜分析使用的內(nèi)標(biāo)元素，通常為基體元素。
題型：判斷題
X射線熒光光譜玻璃熔片法中采用硝酸銨作為氧化劑，氧化劑只能以固體形式加入。
題型：判斷題
直讀光譜分析的品種只能是鐵基的金屬塊狀樣品。
題型：判斷題