A.壓電晶片的尺寸大，則輻射功率大，可檢測(cè)距離大，指向性好，檢測(cè)效率較高
B.壓電晶片的尺寸大，則近場(chǎng)長(zhǎng)度大，始波占寬較大，近表面分辨率降低，雜波多，信噪比低，遠(yuǎn)場(chǎng)分辨率降低
C.壓電晶片尺寸小，則近場(chǎng)長(zhǎng)度短，始波占寬小，近表面分辨率高，雜波少，信噪比高，遠(yuǎn)場(chǎng)分辨率好
D.壓電晶片尺寸小，則輻射功率小，可檢測(cè)距離小，指向性差，檢測(cè)效率低
E.以上都對(duì)
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A.阻尼塊
B.匹配線圈
C.延遲塊
D.保護(hù)膜
A.入射點(diǎn)或探頭前沿
B.折射角
C.聲軸線偏移或偏斜
D.以上都是
A.光結(jié)表面
B.粗糙表面
C.A和B
D.視具體情況
A.頻率越低
B.頻率越高
C.頻率不變
D.以上都不對(duì)
A.連續(xù)波穿透法
B.脈沖波反射法
C.連續(xù)波共振法
D.剪切波諧振法
最新試題
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為（）。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)（），其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
用橫波斜探頭檢測(cè)，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
（）是影響缺陷定量的因素。
儀器水平線性影響（）。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。
（）可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。