單項選擇題組合雙晶直探頭的壓電晶片前裝有（）
A.阻尼塊
B.匹配線圈
C.延遲塊
D.保護膜
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
1.單項選擇題對于單晶斜探頭，在使用中經(jīng)常要校驗的參數(shù)是（）
A.入射點或探頭前沿
B.折射角
C.聲軸線偏移或偏斜
D.以上都是
2.單項選擇題軟保護膜探頭使用于（）的工件表面。
A.光結(jié)表面
B.粗糙表面
C.A和B
D.視具體情況
3.單項選擇題超聲波探頭的頻率與壓電晶片厚度有關(guān)，晶片越薄則（）
A.頻率越低
B.頻率越高
C.頻率不變
D.以上都不對
4.單項選擇題目前工業(yè)常用的超聲波測厚儀利用的是（）
A.連續(xù)波穿透法
B.脈沖波反射法
C.連續(xù)波共振法
D.剪切波諧振法
5.單項選擇題評價超聲波探傷儀在規(guī)定靈敏度下發(fā)現(xiàn)并顯示最小缺陷能力的指標(biāo)是（）
A.分辨率
B.時基線性
C.垂直線性
D.動態(tài)范圍
最新試題
儀器水平線性影響（）。
題型：單項選擇題
超聲檢測對缺陷定位時，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
題型：單項選擇題
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
題型：單項選擇題
在對缺陷進行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
題型：單項選擇題
當(dāng)超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射，這種波是（）。
題型：單項選擇題
超聲波儀時基線的水平刻度與實際聲程成正比的程度，即（）。
題型：單項選擇題
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
題型：單項選擇題
調(diào)節(jié)時基線時，應(yīng)使（）同時對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
題型：單項選擇題
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。
題型：單項選擇題
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
題型：單項選擇題