單項(xiàng)選擇題采用5MHz,φ5mm晶片尺寸的TOFD探頭檢測壁厚t=40mm的工件,以下哪種角度的楔塊可提供更佳的深度分辨率()
A.70°
B.60°
C.50°
D.40°
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1.單項(xiàng)選擇題以下有關(guān)TOFD檢測分辨率的說法,哪一條是正確的()
A.隨著深度的增加而提高
B.隨著探頭頻率的提高而提高
C.隨著超聲脈沖寬度的減小而提高
D.以上都對
2.單項(xiàng)選擇題以下對彎曲型底面開口裂紋測長的敘述,正確的是()
A.由于缺陷輪廓與底面不平行,很難得到好的擬合結(jié)果
B.由于缺陷末端的信號有時看不到,使擬合難以進(jìn)行
C.當(dāng)拋物線指針與缺陷信號不能全部擬合時,應(yīng)優(yōu)先與信號頂部擬合
D.當(dāng)拋物線指針與缺陷信號不能全部擬合時,應(yīng)優(yōu)先與缺陷的三分之一信號末端擬合
3.單項(xiàng)選擇題TOFD技術(shù)測量埋藏缺陷長度的精度()
A.隨著缺陷埋藏深度的增加而降低
B.隨著探頭中心間距增大而降低
C.隨著脈沖寬度的增大而降低
D.以上都對
4.單項(xiàng)選擇題TOFD對埋藏缺陷的分辨力()
A.隨著深度的增加而提高
B.隨著探頭中心間距減小而提高
C.隨著脈沖寬度的減小而提高
D.以上都對
5.單項(xiàng)選擇題以下關(guān)于耦合劑厚度變化對缺陷深度測量誤差影響的敘述,正確的是()
A.為減小測量缺陷信號與測量誤差,必須仔細(xì)測量出所使用的耦合劑厚度
B.如果測量缺陷信號與直通波到達(dá)時間之差,則耦合劑引起的缺陷深度測量誤差很小
C.如果測量缺陷信號到達(dá)的絕對時間,則耦合劑引起的測量誤差很小
D.以上敘述都是錯誤的
最新試題
底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是()
題型:單項(xiàng)選擇題
調(diào)節(jié)掃描速度時,應(yīng)使()同時對準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。
題型:單項(xiàng)選擇題
以下耦合劑中,可用于粗糙表面檢測的是()
題型:單項(xiàng)選擇題
對于平行于檢測面的缺陷,一般采用()檢測。
題型:單項(xiàng)選擇題
底片的最佳黑度值與觀片燈的亮度有關(guān),觀片燈亮度改變,最佳黑度值也將改變。
題型:判斷題
通常所謂20KV的X射線是指()
題型:單項(xiàng)選擇題
一般認(rèn)為表面波探測的有效深度約為()
題型:單項(xiàng)選擇題
底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是()
題型:單項(xiàng)選擇題
最容易發(fā)生光電效應(yīng)的射線能量為()
題型:單項(xiàng)選擇題
原子是元素的具體存在,是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。
題型:判斷題