A.由于缺陷輪廓與底面不平行,很難得到好的擬合結(jié)果
B.由于缺陷末端的信號(hào)有時(shí)看不到,使擬合難以進(jìn)行
C.當(dāng)拋物線指針與缺陷信號(hào)不能全部擬合時(shí),應(yīng)優(yōu)先與信號(hào)頂部擬合
D.當(dāng)拋物線指針與缺陷信號(hào)不能全部擬合時(shí),應(yīng)優(yōu)先與缺陷的三分之一信號(hào)末端擬合
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.隨著缺陷埋藏深度的增加而降低
B.隨著探頭中心間距增大而降低
C.隨著脈沖寬度的增大而降低
D.以上都對(duì)
A.隨著深度的增加而提高
B.隨著探頭中心間距減小而提高
C.隨著脈沖寬度的減小而提高
D.以上都對(duì)
A.為減小測(cè)量缺陷信號(hào)與測(cè)量誤差,必須仔細(xì)測(cè)量出所使用的耦合劑厚度
B.如果測(cè)量缺陷信號(hào)與直通波到達(dá)時(shí)間之差,則耦合劑引起的缺陷深度測(cè)量誤差很小
C.如果測(cè)量缺陷信號(hào)到達(dá)的絕對(duì)時(shí)間,則耦合劑引起的測(cè)量誤差很小
D.以上敘述都是錯(cuò)誤的
A.用高精度的長(zhǎng)度尺反復(fù)測(cè)量
B.用專用的激光測(cè)距儀反復(fù)測(cè)量
C.測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)試塊上不同深度反射體的信號(hào)到達(dá)時(shí)間
D.測(cè)量直通波或者底面波信號(hào)尖端信號(hào)到達(dá)的時(shí)間
A.對(duì)缺陷深度測(cè)量精度影響很大
B.對(duì)缺陷高度測(cè)量精度影響很大
C.對(duì)缺陷長(zhǎng)度測(cè)量精度影響很大
D.對(duì)缺陷偏離軸線位置的測(cè)量精度影響很大
最新試題
探頭的分辨力()
發(fā)生康普頓散射的條件是()
不同材料的相對(duì)吸收系數(shù)()
底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關(guān)系是()
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響()
光電效應(yīng)發(fā)生的機(jī)率隨什么變化()
超聲波斜探頭的K值等于()的正切值。
最容易發(fā)生康普頓效應(yīng)的射線能量為()
最容易發(fā)生光電效應(yīng)的射線能量為()
若評(píng)片燈亮度增為原來的兩倍,則底片透光度(It/I0)變?yōu)樵瓉淼模ǎ?/p>