A.定量分析
B.半定量分析
C.定性分析
D.全元素分析
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A.屏蔽防護(hù)
B.距離防護(hù)
C.時(shí)間防護(hù)
D.空間防護(hù)
A.高原子序數(shù)
B.高熔點(diǎn)
C.高熱傳導(dǎo)率
D.高質(zhì)量吸收系數(shù)
A.判定缺陷性質(zhì)、數(shù)量、尺寸比較準(zhǔn)確
B.檢測(cè)靈敏度受材料晶粒度的影響較大
C.成本較高,檢測(cè)速度不快
D.射線對(duì)人體有傷害
A.光電效應(yīng)
B.電子對(duì)效應(yīng)
C.康普頓散射
D.電離
A.Si
B.Cr
C.Ni
D.Mn
最新試題
顯微鏡鍍層測(cè)厚法缺點(diǎn)是()
X射線管的靶材料的特征是()
光譜分析()材料時(shí),分析面不宜用砂輪機(jī)或砂紙打磨處理。
以下關(guān)于射線檢測(cè)特點(diǎn)的敘述,正確的是()
耐張線夾與接續(xù)金具進(jìn)行握力試驗(yàn)時(shí),試件中金具與金具之間或金具與夾具之間的導(dǎo)線長(zhǎng)度應(yīng)不小于導(dǎo)線外徑的(),且不小于()。
技術(shù)監(jiān)督執(zhí)行單位應(yīng)配置開(kāi)展技術(shù)監(jiān)督所必需的裝備,做好()的宣傳與推廣工作。
中國(guó)電科院的主要職責(zé)包括()
以下屬于連接金具型式試驗(yàn)的試驗(yàn)項(xiàng)目有()
X熒光測(cè)厚儀優(yōu)點(diǎn)有()
國(guó)網(wǎng)新源公司在國(guó)網(wǎng)基建部的組織下,開(kāi)展()專業(yè)全過(guò)程技術(shù)監(jiān)督工作。