單項(xiàng)選擇題雙晶片直探頭適用于檢查（）

A.餅類鍛件
B.環(huán)類鍛件
C.中厚板
D.以上都可以


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1.單項(xiàng)選擇題下列哪種方法最適合探測(cè)厚板（）

A.接觸法垂直入射
B.水浸法垂直入射
C.接觸法斜入射
D.水浸法斜入射

2.單項(xiàng)選擇題探測(cè)環(huán)類鍛件時(shí)，常采用下列哪種人工反射體來調(diào)整靈敏度（）

A.平底孔
B.V型或矩形槽
C.橫孔
D.A和B

3.單項(xiàng)選擇題環(huán)類鍛件的主要檢測(cè)方式是（）

A.端面垂直入射檢驗(yàn)
B.端面斜入射檢驗(yàn)
C.圓周面垂直入射檢驗(yàn)和圓周面斜入射檢驗(yàn)
D.以上都是

4.單項(xiàng)選擇題根據(jù)餅類鍛件的變形工藝特點(diǎn)，通常具有下列哪種聲傳播特性（）

A.端面區(qū)域聲衰減比中心區(qū)域大
B.端面區(qū)域聲衰減比中心區(qū)域小
C.圓周區(qū)域聲衰減比中心區(qū)域小
D.不能確定

5.單項(xiàng)選擇題探測(cè)餅類鍛件時(shí)，常采用下列哪種人工反射體來調(diào)整靈敏度（）

A.平底孔
B.橫通孔
C.矩形槽
D.V型槽