A.平底孔
B.橫通孔
C.矩形槽
D.V型槽
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A.接觸法縱波+橫波，端面掃查
B.水浸法縱波+橫波，端面掃查
C.水浸或接觸法縱波+橫波，周面掃查
D.縱波檢查內(nèi)部缺陷，表面波檢查表面缺陷
A.平底孔
B.橫通孔
C.矩形槽
D.V型槽
A.縱波徑向
B.縱波軸向
C.橫波周向和軸向
D.以上都可以
A.縱波徑向
B.縱波軸向
C.橫波周向
D.橫波軸向
A.聲束入射方向的選擇需要考慮變形工藝和金屬流線(xiàn)方向
B.鍛件的組織較細(xì)小，因此可以采用更高的檢測(cè)頻率
C.航空用重要鍛件，越來(lái)越多地采用水浸法檢測(cè)
D.以上都是
最新試題
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
用橫波斜探頭檢測(cè)，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
單探頭法容易檢出（）。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng)，超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱(chēng)為（）。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱(chēng)為缺陷的（）。