A.直角坐標(biāo)法
B.極坐標(biāo)法
C.距離交會(huì)法
D.角度交會(huì)法
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.直角坐標(biāo)法
B.極坐標(biāo)法
C.距離交會(huì)法
D.角度交會(huì)法
A.1.142m
B.1.042m
C.0.942m
D.0.842m
最新試題
度盤刻劃誤差,可以按照()變換水平度盤位置削弱該誤差影響。
若依次采用元素法、主點(diǎn)法或交點(diǎn)法三種路線定義方法,那么路線定義的最終數(shù)據(jù)為最后采用()的定義方法所得到的有效數(shù)據(jù)。
水平角觀測(cè)誤差超限時(shí),下列行為不符合規(guī)范規(guī)定的是()。
精密光學(xué)水準(zhǔn)儀測(cè)量高程時(shí)應(yīng)使用()
RTK測(cè)量的基本工作流程中,在至少()個(gè)公共點(diǎn)上求WGS 84坐標(biāo)與已知地方坐標(biāo)系之間的轉(zhuǎn)換參數(shù)(即點(diǎn)校正)。
繪制坐標(biāo)方格網(wǎng),方格的邊長(zhǎng)應(yīng)準(zhǔn)確,誤差不超過(guò)()。
精密經(jīng)緯儀光學(xué)部件上出現(xiàn)線紋斑,則說(shuō)明光學(xué)部件有()現(xiàn)象。
精密光學(xué)水準(zhǔn)儀的日常保養(yǎng)中,一般使用()擦拭鏡片。
衡量地形圖測(cè)量的技術(shù)指標(biāo)主要有地物點(diǎn)的()、等高線插求點(diǎn)的高程中誤差、細(xì)部點(diǎn)的平面和高程中誤差以及地形點(diǎn)的最大點(diǎn)位間距。
精密經(jīng)緯儀的主軸線有視準(zhǔn)軸、()、數(shù)軸和光學(xué)(激光)對(duì)中器視軸等。