偽距測(cè)量缺點(diǎn)有時(shí)間不宜測(cè)準(zhǔn)和（）

精密經(jīng)緯儀光學(xué)部件上出現(xiàn)線紋斑，則說(shuō)明光學(xué)部件有（）現(xiàn)象。

度盤(pán)刻劃誤差，可以按照（）變換水平度盤(pán)位置削弱該誤差影響。

GPS-RTK測(cè)圖時(shí)作業(yè)要求有PDOP值應(yīng)小于（）。

光電測(cè)距中對(duì)向觀測(cè)的作用是減弱大氣折光、（）等對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。

精密經(jīng)緯儀的主軸線有視準(zhǔn)軸、（）、數(shù)軸和光學(xué)（激光）對(duì)中器視軸等。

載波相位測(cè)量如觀測(cè)過(guò)程中跟蹤衛(wèi)星信號(hào)沒(méi)有中斷，則初始時(shí)刻整周相位是未知數(shù)，通常為一個(gè)常數(shù)，稱(chēng)為（）

RTK測(cè)量的基本工作流程中，在至少（）個(gè)公共點(diǎn)上求WGS 84坐標(biāo)與已知地方坐標(biāo)系之間的轉(zhuǎn)換參數(shù)（即點(diǎn)校正）。

絕對(duì)定位定位精度為（）。

儀器及反光鏡的對(duì)中偏差均不應(yīng)大于（）。