A.激發(fā)態(tài)原子數(shù)與基態(tài)原子數(shù)之比
B.入射總光強(qiáng)與吸收后的光強(qiáng)之比
C.單位時(shí)間發(fā)射的光子數(shù)與單位時(shí)間吸收激發(fā)光的光子數(shù)之比
D.原子化器中離子濃度與原子濃度之比
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A.固相萃取
B.微波消解
C.色譜分離
D.液液萃取
A.稀釋樣品
B.標(biāo)準(zhǔn)加入法
C.內(nèi)標(biāo)法
D.選擇無(wú)干擾的同位素
A.直接倒入水槽中排走
B.分類(lèi)排放
C.先中和、還原后再排走
D.繼續(xù)使用,不處理
A.標(biāo)準(zhǔn)曲線法
B.標(biāo)準(zhǔn)加入法
C.內(nèi)標(biāo)法
D.單點(diǎn)校正法
A.10B和11B
B.204Hg和204Pb
C.204Pb和206Pb
D.27Al和29Si
最新試題
原子熒光儀外表面可用濕抹布擦拭,但應(yīng)斷電,防止短路。
直讀光譜分析中檢查激發(fā)放電斑點(diǎn),凝聚放電是好的,擴(kuò)散放電是不好的。
儀器結(jié)果保存時(shí)應(yīng)該分類(lèi),并按照年月日依次保存,不能重復(fù)命名,便于上傳時(shí)和以后查找。
紅外碳硫儀中的紅外檢測(cè)池具有單一性,各紅外池間不可互相代用。
ICP-AES分析中的化學(xué)干擾,比起火焰原子吸收光譜或火焰原子發(fā)射光譜分析要輕微得多,因此化學(xué)干擾在ICP發(fā)射光譜分析中可以常常忽略不計(jì)。
直讀光譜分析的品種只能是鐵基的金屬塊狀樣品。
X射線熒光光譜分析中,含吸附水的樣品會(huì)影響抽真空的效果,導(dǎo)致分析延時(shí)。
在原子熒光光譜分析中,同種元素銳線光源有利于共振熒光的激發(fā)。
原子吸收光度法,WM-2H型無(wú)油氣體壓縮機(jī),表壓不在“0”為時(shí),不得開(kāi)機(jī)。
金屬的直讀光譜分析使用的內(nèi)標(biāo)元素,通常為基體元素。