火花源原子發(fā)射光譜分析儀的聚光鏡在分光室與激發(fā)電極架之間。

鋼鐵中碳分析，如果采用常規(guī)化學(xué)方法，需要隨同試料做空白試驗(yàn)。

X射線(xiàn)熒光光譜玻璃熔片法中采用硝酸銨作為氧化劑，氧化劑只能以固體形式加入。

直讀光譜分析中，電極與試樣的距離對(duì)分析結(jié)果有影響。

ICP矩焰形成通稱(chēng)點(diǎn)火，和火焰原子吸收法一樣，都是把工作氣體點(diǎn)燃，形成高溫的火焰。

ICP-AES分析中的化學(xué)干擾，比起火焰原子吸收光譜或火焰原子發(fā)射光譜分析要輕微得多，因此化學(xué)干擾在ICP發(fā)射光譜分析中可以常常忽略不計(jì)。

直讀光譜分析的品種只能是鐵基的金屬塊狀樣品。

原子吸收光譜法測(cè)定被測(cè)元素，為了保證數(shù)據(jù)能夠上傳，必須將樣品編號(hào)輸完整。

X射線(xiàn)熒光光譜儀長(zhǎng)時(shí)間停用后，可以直接調(diào)整電壓和電流至工作電壓和電流。

原子熒光法做檢出限測(cè)試時(shí)應(yīng)對(duì)空白樣品連續(xù)測(cè)定7次。