A.標(biāo)準(zhǔn)曲線法
B.指示劑法
C.二階微商法
D.標(biāo)準(zhǔn)加入法
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A.可用于校正干擾值
B.常用來估計(jì)測(cè)量誤差
C.對(duì)確定的響應(yīng)離子i和干擾離子j，它是一個(gè)常數(shù)
D.可通過實(shí)驗(yàn)測(cè)定
A.降低檢測(cè)限
B.擴(kuò)大線性范圍
C.可不加總離子強(qiáng)度調(diào)節(jié)緩沖液
D.提高測(cè)定準(zhǔn)確度
A.玻璃膜外水化層與溶液產(chǎn)生的相間電位
B.玻璃膜內(nèi)側(cè)水化層與溶液產(chǎn)生的相間電位
C.跨越玻璃膜兩側(cè)溶液之間的電位差
D.玻璃電極的電位
A.測(cè)NA＋時(shí)，產(chǎn)生“堿差”；測(cè)H＋時(shí)，產(chǎn)生“酸差”
B.測(cè)OH－時(shí)，產(chǎn)生“堿差”；測(cè)H＋時(shí)，產(chǎn)生“酸差“
C.測(cè)定pH高時(shí)，產(chǎn)生“堿差”；測(cè)定pH低時(shí)，產(chǎn)生“酸差
D.測(cè)pOH時(shí)，產(chǎn)生“堿差”；測(cè)pH時(shí)，產(chǎn)生“酸差”
A.會(huì)產(chǎn)生鈉差
B.產(chǎn)生酸誤差
C.測(cè)得的pH值偏低
D.測(cè)得的pH值偏高
最新試題
ICP光譜干擾包括（）。
ICP光譜儀中石英炬管清洗時(shí)用的酸是（）。
判定原子吸收光譜測(cè)量元素準(zhǔn)確度，必須根據(jù)與分析元素結(jié)果相接近的標(biāo)準(zhǔn)樣品測(cè)定值。
管式爐紅外線吸收法測(cè)定煤中硫含量，根據(jù)朗伯-比爾定律即可求出煤樣中的硫含量。
脈沖加熱熔融熱導(dǎo)法測(cè)定鋼鐵中氫含量，分析前應(yīng)用有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)進(jìn)行檢查和校準(zhǔn)儀器，所用實(shí)物標(biāo)準(zhǔn)的氫含量應(yīng)略大于被分析試樣的含氫量。
鋼鐵中以下元素能夠使用紅外線吸收法測(cè)量的是（）。
X射線熒光光譜分析中，分光晶體對(duì)溫度的變化比較敏感，一般要求晶體室溫度變化在（）度內(nèi)。
ICP-AES法測(cè)量分析試樣時(shí)，所選擇的光譜分析線是（）。
氧氮分析儀測(cè)氮時(shí)，是通過紅外池檢測(cè)試樣熔融后釋放出的氮?dú)饬縼頇z測(cè)的。
高純鐵中超低碳硫含量的紅外線吸收法測(cè)定過程中，陶瓷坩堝拆裝后即可立即使用，無需任何預(yù)處理。