A.連續(xù)背景輻射B.譜線重疊干擾C.揮發(fā)和原子化干擾D.激發(fā)和電離干擾E.化學干擾
A.有較強的炭譜B.多元素檢出能力不如常規(guī)Ar-ICPC.費用比ICP-N2更低D.干擾小E.背景低
A.光譜干擾比ICP-MS大B.可在大氣壓下連續(xù)工作C.不比ICP-MS具有更好的檢出線D.可測痕量元素E.測量元素種類多