A.玻璃膜外水化層與溶液產(chǎn)生的相間電位
B.玻璃膜內(nèi)側(cè)水化層與溶液產(chǎn)生的相間電位
C.跨越玻璃膜兩側(cè)溶液之間的電位差
D.玻璃電極的電位
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A.測(cè)NA+時(shí),產(chǎn)生“堿差”;測(cè)H+時(shí),產(chǎn)生“酸差”
B.測(cè)OH-時(shí),產(chǎn)生“堿差”;測(cè)H+時(shí),產(chǎn)生“酸差“
C.測(cè)定pH高時(shí),產(chǎn)生“堿差”;測(cè)定pH低時(shí),產(chǎn)生“酸差
D.測(cè)pOH時(shí),產(chǎn)生“堿差”;測(cè)pH時(shí),產(chǎn)生“酸差”
A.會(huì)產(chǎn)生鈉差
B.產(chǎn)生酸誤差
C.測(cè)得的pH值偏低
D.測(cè)得的pH值偏高
A.對(duì)特定離子呈Nernst響應(yīng)的敏感膜
B.內(nèi)參比電極
C.內(nèi)參比溶液
D.電極桿
A.固定溶液的離子強(qiáng)度
B.恒定溶液的pH值
C.掩蔽干擾離子
D.消除液接電位
A.消除溫度的影響
B.提高測(cè)定的靈敏度
C.扣除待測(cè)電池電動(dòng)勢(shì)與試液pH值關(guān)系式中的“K”
D.消除干擾離子的影響
最新試題
在高頻感應(yīng)紅外碳硫分析儀中,可以作為氧化催化劑的試劑有()。
X射線熒光光譜分析中,分光晶體對(duì)溫度的變化比較敏感,一般要求晶體室溫度變化在()度內(nèi)。
ICP-AES法測(cè)量分析試樣時(shí),所選擇的光譜分析線是()。
LZ50中氧氮含量的測(cè)定,分析儀器需要配備外循環(huán)冷卻水器或自來水源。
高純鐵中超低碳硫含量的紅外線吸收法測(cè)定過程中,陶瓷坩堝拆裝后即可立即使用,無需任何預(yù)處理。
脈沖加熱熔融熱導(dǎo)法測(cè)定鋼鐵中氫含量,分析前應(yīng)用有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)進(jìn)行檢查和校準(zhǔn)儀器,所用實(shí)物標(biāo)準(zhǔn)的氫含量應(yīng)略大于被分析試樣的含氫量。
氧氮分析儀同碳硫分析儀一樣,都是采用加熱方式來分解試樣,所以也使用氧氣作載氣。
鋼鐵中以下元素能夠使用紅外線吸收法測(cè)量的是()。
直讀光譜分析鐵水試樣時(shí),鐵水試樣必須白口化。
ICP所用的氣動(dòng)霧化器有三種基本類型,它們分別是()。