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磁粉探傷中，為有效地檢出試件表面缺陷，宜采用直流電流磁化試件
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磁粉探傷中，為有效地檢出試件表面缺陷，宜采用交流電流磁化試件
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為了獲得高對(duì)比度以發(fā)現(xiàn)非常細(xì)微的缺陷，最好采用黑磁粉剩磁法
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為了獲得高對(duì)比度以發(fā)現(xiàn)非常細(xì)微的缺陷，最好采用紅磁粉剩磁法
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為了獲得高對(duì)比度以發(fā)現(xiàn)非常細(xì)微的缺陷，最好采用熒光磁粉連續(xù)法
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對(duì)交流做半波整流是為了能夠有利于檢驗(yàn)表面的缺陷
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對(duì)交流做半波整流是為了能夠有利于檢驗(yàn)近表面的缺陷
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磁粉探傷用環(huán)形人工缺陷試塊用于復(fù)合磁化法的磁粉材料和系統(tǒng)靈敏度的評(píng)價(jià)
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磁粉探傷用環(huán)形人工缺陷試塊用于旋轉(zhuǎn)磁場(chǎng)法的磁粉材料和系統(tǒng)靈敏度的評(píng)價(jià)
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磁粉探傷用環(huán)形人工缺陷試塊用于線圈法的磁粉材料和系統(tǒng)靈敏度的評(píng)價(jià)
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磁粉探傷用環(huán)形人工缺陷試塊用于周向直接通電法的磁粉材料和系統(tǒng)靈敏度的評(píng)價(jià)
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