判斷題為了獲得高對(duì)比度以發(fā)現(xiàn)非常細(xì)微的缺陷,最好采用紅磁粉剩磁法
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直射法探傷時(shí)試件的探測(cè)面應(yīng)選在與缺陷最大表面()
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