A.功能錯(cuò)誤
B.代碼路徑中的錯(cuò)誤
C.邏輯錯(cuò)誤
D.死循環(huán)
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A.弱覆蓋
B.條件組合覆蓋
C.語(yǔ)句覆蓋
D.全覆蓋
A.文檔覆蓋
B.路徑覆蓋
C.靜態(tài)覆蓋
D.判定覆蓋
A.代碼走查
B.插樁
C.等價(jià)類(lèi)劃分
D.邏輯驅(qū)動(dòng)
A.混合的漸增式測(cè)試中對(duì)上層模塊采取自頂向下測(cè)試，使之能較早地顯示系統(tǒng)的總體輪廓。
B.混合的漸增式測(cè)試在軟件開(kāi)發(fā)過(guò)程中使用較少。
C.混合的漸增式測(cè)試中對(duì)某些關(guān)鍵模塊或子系統(tǒng)采用由底向上組裝和測(cè)試的方法。
D.混合的漸增式測(cè)試是自頂向下的漸增式測(cè)試和自底向上的漸增式測(cè)試的合并。
A.白盒測(cè)試
B.軟件測(cè)試
C.分析測(cè)試
D.單元測(cè)試
最新試題
測(cè)試中有風(fēng)險(xiǎn)存在：基于所使用的測(cè)試工具、測(cè)試方法、用例的局限性，某些情況下軟件缺陷不會(huì)被發(fā)現(xiàn)；所以我們應(yīng)當(dāng)正確使用測(cè)試用例，保障滿足一定的覆蓋率。
對(duì)軟件過(guò)程中存在的各類(lèi)文檔格式、標(biāo)準(zhǔn)和描述進(jìn)行評(píng)審，描述的是下面哪一種評(píng)審？（）
下列測(cè)試方法中，對(duì)白盒測(cè)試方法中相應(yīng)的邏輯覆蓋法描述錯(cuò)誤的是（）
軟件評(píng)審結(jié)論不包括（）
下面對(duì)測(cè)試需求分析描述不正確的是（）
下面對(duì)于開(kāi)發(fā)過(guò)程描述正確的是（）
單元測(cè)試一般由專(zhuān)門(mén)的測(cè)試人員和開(kāi)發(fā)人員一起進(jìn)行。
敏捷開(kāi)發(fā)中用戶故事評(píng)審標(biāo)準(zhǔn)3要素包括（）。
自動(dòng)化測(cè)試不能夠完全替代手工測(cè)試，但是自動(dòng)化測(cè)試自動(dòng)運(yùn)行速度快，手工測(cè)試無(wú)法比。
測(cè)試輸入是測(cè)試計(jì)劃制定的依據(jù)，但包括下面哪幾個(gè)內(nèi)容？（）