A.白盒測(cè)試
B.軟件測(cè)試
C.分析測(cè)試
D.單元測(cè)試
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.黑盒測(cè)試
B.功能測(cè)試
C.易用性測(cè)試
D.系統(tǒng)測(cè)試
A.系統(tǒng)測(cè)試
B.安全性測(cè)試
C.探索測(cè)試
D.驗(yàn)收測(cè)試
A.X模型
B.W模型
C.V模型
D.瀑布模型
A.驗(yàn)收階段
B.編碼階段
C.概要設(shè)計(jì)階段
D.實(shí)施階段
A.基準(zhǔn)環(huán)境與實(shí)際運(yùn)行環(huán)境的偏差
B.用戶使用手冊(cè)存在錯(cuò)誤
C.線程鎖、資源競(jìng)爭(zhēng)和內(nèi)存問題等
D.測(cè)試人員不懂開發(fā)技術(shù)
最新試題
軟件測(cè)試應(yīng)該盡早執(zhí)行,自動(dòng)化測(cè)試也最好在項(xiàng)目初期就開始自動(dòng)化測(cè)試。
對(duì)軟件過程中存在的各類文檔格式、標(biāo)準(zhǔn)和描述進(jìn)行評(píng)審,描述的是下面哪一種評(píng)審?()
測(cè)試輸入是測(cè)試計(jì)劃制定的依據(jù),但不包括下面哪個(gè)內(nèi)容?()
模擬負(fù)載測(cè)試需要通過一些參數(shù)的設(shè)定來實(shí)現(xiàn),常見參數(shù)包括“并發(fā)用戶數(shù)、思考時(shí)間、價(jià)值循環(huán)次數(shù)或持續(xù)時(shí)間、請(qǐng)求的數(shù)據(jù)量和加載的方式”。
敏捷開發(fā)模型不適用于大型開發(fā)項(xiàng)目。
在logical coverage法中覆蓋范圍比較小的是()。
關(guān)于混合漸增式testing的論述錯(cuò)誤的是()。
軟件缺陷的優(yōu)先級(jí)從P1-P4級(jí),下面對(duì)其描述錯(cuò)誤的是()
()僅僅依賴于白盒測(cè)試,可能會(huì)有遺漏。
下面對(duì)于開發(fā)過程描述正確的是()