A.文檔覆蓋
B.路徑覆蓋
C.靜態(tài)覆蓋
D.判定覆蓋
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你可能感興趣的試題
A.代碼走查
B.插樁
C.等價(jià)類劃分
D.邏輯驅(qū)動(dòng)
A.混合的漸增式測(cè)試中對(duì)上層模塊采取自頂向下測(cè)試，使之能較早地顯示系統(tǒng)的總體輪廓。
B.混合的漸增式測(cè)試在軟件開發(fā)過(guò)程中使用較少。
C.混合的漸增式測(cè)試中對(duì)某些關(guān)鍵模塊或子系統(tǒng)采用由底向上組裝和測(cè)試的方法。
D.混合的漸增式測(cè)試是自頂向下的漸增式測(cè)試和自底向上的漸增式測(cè)試的合并。
A.白盒測(cè)試
B.軟件測(cè)試
C.分析測(cè)試
D.單元測(cè)試
A.黑盒測(cè)試
B.功能測(cè)試
C.易用性測(cè)試
D.系統(tǒng)測(cè)試
A.系統(tǒng)測(cè)試
B.安全性測(cè)試
C.探索測(cè)試
D.驗(yàn)收測(cè)試
最新試題
敏捷開發(fā)中用戶故事評(píng)審標(biāo)準(zhǔn)3要素包括（）。
對(duì)軟件過(guò)程中存在的各類文檔格式、標(biāo)準(zhǔn)和描述進(jìn)行評(píng)審，描述的是下面哪一種評(píng)審？（）
軟件缺陷的優(yōu)先級(jí)從P1-P4級(jí)，下面對(duì)其描述錯(cuò)誤的是（）
從一般意義看，測(cè)試結(jié)束的標(biāo)準(zhǔn)定義錯(cuò)誤的是（）
模擬負(fù)載測(cè)試需要通過(guò)一些參數(shù)的設(shè)定來(lái)實(shí)現(xiàn)，常見(jiàn)參數(shù)包括“并發(fā)用戶數(shù)、思考時(shí)間、價(jià)值循環(huán)次數(shù)或持續(xù)時(shí)間、請(qǐng)求的數(shù)據(jù)量和加載的方式”。
軟件測(cè)試應(yīng)該盡早執(zhí)行，自動(dòng)化測(cè)試也最好在項(xiàng)目初期就開始自動(dòng)化測(cè)試。
強(qiáng)調(diào)對(duì)評(píng)審對(duì)象要從頭到尾檢查一遍，容易發(fā)現(xiàn)表面問(wèn)題。說(shuō)的是以下哪一種評(píng)審方法？（）
測(cè)試中有風(fēng)險(xiǎn)存在：基于所使用的測(cè)試工具、測(cè)試方法、用例的局限性，某些情況下軟件缺陷不會(huì)被發(fā)現(xiàn)；所以我們應(yīng)當(dāng)正確使用測(cè)試用例，保障滿足一定的覆蓋率。
軟件缺陷的優(yōu)先級(jí)從P1-P4級(jí)下面對(duì)其描述正確的是（）
測(cè)試優(yōu)先級(jí)中，用戶用的越多或?qū)I(yè)務(wù)影響越關(guān)鍵的測(cè)試項(xiàng)，其測(cè)試優(yōu)先級(jí)也越高。