A.工件內(nèi)有小缺陷
B.工件內(nèi)無缺陷
C.工件內(nèi)有大缺陷
D.工件內(nèi)有傾斜的或小而密集的缺陷
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A.工件內(nèi)有小缺陷
B.工件內(nèi)無缺陷
C.工件內(nèi)有大缺陷
D.無法確定
A.工件表面粗糙度對(duì)聲耦合有一定的影響
B.對(duì)于同一耦合劑，表面越粗糙，耦合效果越差
C.聲阻抗高的耦合劑，隨粗糙度的變差，耦合效果降低得更快
D.以上都對(duì)
A.耦合層的厚度對(duì)耦合沒有影響
B.在接觸法檢測(cè)中，耦合層厚度越薄，耦合效果越好
C.在液浸法檢測(cè)中，考慮耦合層厚度的因素，在使用聚焦探頭時(shí)主要考慮的是使耦合層厚度滿足多次重合法
D.在液浸法檢測(cè)中，考慮耦合層厚度的因素，在使用平探頭時(shí)主要考慮的是探頭焦距
A.機(jī)油
B.甘油
C.水
D.漿糊
A.材質(zhì)均勻，內(nèi)部雜質(zhì)少無影響使用缺陷
B.加工容易、不易變形和銹蝕
C.無影響使用缺陷
D.聲學(xué)性能盡可能與被檢工件相同或相近
最新試題
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為（）。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說法錯(cuò)誤的是（）。
儀器水平線性影響（）。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指（）。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對(duì)缺陷進(jìn)行（）。