利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時，下面敘述中（）是錯誤的。

當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時，需要進(jìn)行傳輸修正。

關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說法錯誤的是（）。

縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱時，在第一次底波之后，還有2個特定位置的反射波，這種波是（）。

（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。

底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。

（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。

利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時，適用的工件厚度為（）。

當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射，這種波是（）。

移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。