單項選擇題CSK-ⅡA試塊上的Φ1×6橫孔，在超聲遠場，其反射波高隨聲程的變化規(guī)律與（）相同
A.長橫孔
B.平底孔
C.球孔
D.以上B和C
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1.單項選擇題對超聲探傷試塊材質的基本要求是：（）
A.其聲速與波探工件聲速基本一致
B.材料中沒有超過Ф2mm平底孔當量的缺陷
C.材料衰減不太大且均勻
D.以上都是
2.單項選擇題用以標定或測試超聲探傷系統(tǒng)的，含有模擬缺陷的人工反射體的金屬塊叫：（）
A.晶體準直器
B.測角器
C.參考試塊
D.工件
3.單項選擇題斜探頭前沿長度和K值測定的幾種發(fā)放中，哪種方法精度最高：（）、
A.半圓試法和橫孔法
B.雙孔法
C.直角邊法
D.不一定，須視具體情況而定
4.單項選擇題以下哪一條，不屬于雙晶探頭的性能指標（）
A.工作頻率
B.晶片尺寸
C.探測深度
D.近場長度
5.單項選擇題以下哪一條，不屬于雙晶探頭的優(yōu)點（）
A.探測范圍大
B.盲區(qū)小
C.工件中近場長度小
D.雜波少
最新試題
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。
題型：單項選擇題
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。
題型：單項選擇題
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
題型：單項選擇題
利用底波計算法進行靈敏度校準時，適用的工件厚度為（）。
題型：單項選擇題
（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
題型：單項選擇題
（）是影響缺陷定量的因素。
題型：單項選擇題
實際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當提高，這種在檢測靈敏度基礎上適當提高后的靈敏度叫做（）。
題型：單項選擇題
調節(jié)時基線時，應使（）同時對準相應的聲程位置。
題型：單項選擇題
儀器水平線性影響（）。
題型：單項選擇題
關于液浸法的優(yōu)點，說法錯誤的是（）。
題型：單項選擇題