A.溶劑去除型熒光滲透法
B.溶劑去除型著色滲透法
C.后乳化型熒光滲透法
D.后乳化型著色滲透法
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A.只需見到缺陷顯示,不一定非要在施加顯像劑10-15分鐘后進(jìn)行跡痕解釋和評(píng)定
B.為保證著色探傷中檢查細(xì)微缺陷的需要,被檢零件的照度應(yīng)不超過200Lx
C.熒光探傷時(shí)暗室中的白光強(qiáng)度應(yīng)不超過5Lx
D.以上說法都不對(duì)
A.酸洗
B.打磨
C.噴砂
D.蒸氣除油
A.200nm
B.365nm
C.400nm
D.沒有要求
A.滲透檢測(cè)方法比渦流檢測(cè)方法靈活性小
B.對(duì)于鐵磁性材料的表面缺陷,滲透檢測(cè)方法不如磁粉檢測(cè)方法可靠
C.滲透檢測(cè)方法不能發(fā)現(xiàn)疲勞裂紋
D.對(duì)于微小的表面缺陷,滲透檢測(cè)方法比射線照相檢測(cè)方法可靠
A.酸洗
B.打磨
C.噴砂
D.蒸汽去除
最新試題
()是影響缺陷定量的因素。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
單探頭法容易檢出()。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的()。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。