A.只需見(jiàn)到缺陷顯示，不一定非要在施加顯像劑10-15分鐘后進(jìn)行跡痕解釋和評(píng)定
B.為保證著色探傷中檢查細(xì)微缺陷的需要，被檢零件的照度應(yīng)不超過(guò)200Lx
C.熒光探傷時(shí)暗室中的白光強(qiáng)度應(yīng)不超過(guò)5Lx
D.以上說(shuō)法都不對(duì)
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A.酸洗
B.打磨
C.噴砂
D.蒸氣除油
A.200nm
B.365nm
C.400nm
D.沒(méi)有要求
A.滲透檢測(cè)方法比渦流檢測(cè)方法靈活性小
B.對(duì)于鐵磁性材料的表面缺陷，滲透檢測(cè)方法不如磁粉檢測(cè)方法可靠
C.滲透檢測(cè)方法不能發(fā)現(xiàn)疲勞裂紋
D.對(duì)于微小的表面缺陷，滲透檢測(cè)方法比射線(xiàn)照相檢測(cè)方法可靠
A.酸洗
B.打磨
C.噴砂
D.蒸汽去除
A.溶劑去除型熒光滲透法
B.溶劑去除型著色滲透法
C.后乳化型熒光滲透法
D.水洗型著色滲透法
最新試題
底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指（）。
實(shí)際檢測(cè)中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng)，超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱(chēng)為（）。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
超聲波儀時(shí)基線(xiàn)的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。