使用雙探頭掃查時，如盲目改變掃查方向，將會導(dǎo)致（）。

探傷中探頭晶片尺寸增加，相應(yīng)的（）對探傷有利。

采用兩個斜探頭（一收一發(fā)）交叉（）的掃查方式叫做交叉掃查。

探傷工藝規(guī)程編制應(yīng)對受檢工件的（）做好記錄。

60kg/m與75kg/m軌頭寬度極限偏差為（）

剝離層下核傷可采用軌顎法進(jìn)行校對，用軌顎校對法校對時，需在鋼軌表面校對的靈敏度的基礎(chǔ)上增加（）。

在橫波探傷中，探頭K值對探傷（）有較大的影響。

根據(jù)接頭鋼軌下顎裂紋形成的原因，可知其具有從（）逐步擴(kuò)展的特點(diǎn)。

垂直法局部掃查即探頭在整個面上按規(guī)定，并事先劃出的線上移動，相鄰掃查線的間距往往（）探頭直徑。

為了提高探傷結(jié)果的可靠性，探傷前應(yīng)對被檢工件的（）和形成規(guī)律以及受檢部位的受力方向等進(jìn)行調(diào)查。