A.絕對(duì)靈敏度;
B.相對(duì)靈敏度;
C.對(duì)比靈敏度;
D.以上都是
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A.縱向磁化;
B.周向磁化;
C.高充填因數(shù)線圈磁化;
D.以上都不是
A.縱向磁化;
B.軸向磁化;
C.向量磁化;
D.平行磁化
A.連續(xù)法;
B.剩磁法
A.剩磁法;
B.連續(xù)法
A.表面缺陷;
B.內(nèi)部缺陷;
C.表面和近表面缺陷;
D.以上都可以
最新試題
用連續(xù)法檢測(cè)時(shí),檢測(cè)靈敏度幾乎不受被檢工件材質(zhì)的影響,僅與被檢工件表面磁場(chǎng)強(qiáng)度有關(guān)。
C型靈敏度試片與A型靈敏度試片使用方法相同,只是C型靈敏度試片能用于狹小部位。
退磁就是消除材料磁化后的剩余磁場(chǎng)使其達(dá)到無磁狀態(tài)的過程。
對(duì)于交流線圈,線圈中的工件將影響電流的調(diào)整。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:磁粉檢測(cè)的工件表面不得有油脂、鐵銹、氧化皮或其它粘附磁粉的物質(zhì)。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:剩磁應(yīng)不大于0.3mT(240A/m)。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:采用軸向通電法和觸頭法磁化時(shí),為了防止電弧燒傷工件表面,應(yīng)將工件和電極接觸部分清除干凈或在電極上安裝非導(dǎo)電物質(zhì)。
濕法用磁粉粒度一般比干法小。
采用濕法時(shí),應(yīng)確認(rèn)整個(gè)檢測(cè)面被磁懸液濕潤后,再施加磁懸液。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:兩條或兩條以上缺陷磁痕在同一直線上且間距不大于2mm時(shí),按一條磁痕處理,其長度為兩條磁痕之和加間距。