A.表面缺陷;
B.內部缺陷;
C.表面和近表面缺陷;
D.以上都可以
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A.芯棒法;
B.縱向通電法;
C.磁軛法;
D.觸頭法;
E.磁通貫通法;
F.A,C和E都是
A.表面缺陷;
B.近表面缺陷;
C.A和B都是;
D.以上都不是
A.周向磁化;
B.縱向磁化;
C.偏振磁化;
D.剩余磁化
A.直流;
B.交流;
C.脈動直流;
D.半波整流
A.支桿法;
B.線圈法;
C.磁軛法;
D.芯棒法
最新試題
標準試塊主要用于檢驗磁粉檢測的系統(tǒng)靈敏度,確定被檢工件的磁化規(guī)范。
JB/T4730.4-2005標準規(guī)定:大型工件可使用交流電磁軛進行局部退磁或采用纏繞電纜線圈分段退磁。
在不退磁的情況下,周向磁化產生的剩磁比縱向磁化產生的剩磁有更大的危害性。
JB/T4730.4-2005標準規(guī)定的水斷試驗,主要是用來檢驗水磁懸液對被檢表面的潤濕性能,只有出現(xiàn)裸露的“水斷”表面,才可以開始磁粉檢測。
打亂材料磁疇排布的兩種方法是:加熱到居里點溫度以上熱處理退磁法和反磁場退磁法。
JB/T4730.4-2005標準規(guī)定:檢測后加熱至600℃以上進行熱處理的工件,一般可不進行退磁。
組合裝配件應分解后再進行磁粉檢測。
用連續(xù)法檢測時,檢測靈敏度幾乎不受被檢工件材質的影響,僅與被檢工件表面磁場強度有關。
材料磁導率低(剩磁大)及直流磁化后,退磁磁場換向的次數(shù)(退磁頻率)應較多,每次下降的磁場值應較小,且每次停留的時間(周期)要略長。
JB/T4730.4-2005標準規(guī)定:磁粉檢測時一般應選用A1-60/100型標準試片。