A．芯棒法；
B．縱向通電法；
C．磁軛法；
D．觸頭法；
E．磁通貫通法；
F．A，C和E都是
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A．表面缺陷；
B．近表面缺陷；
C．A和B都是；
D．以上都不是
A．周向磁化；
B．縱向磁化；
C．偏振磁化；
D．剩余磁化
A．直流；
B．交流；
C．脈動(dòng)直流；
D．半波整流
A．支桿法；
B．線圈法；
C．磁軛法；
D．芯棒法
A．兩個(gè)或兩個(gè)以上不同方向的磁場(chǎng)；
B．強(qiáng)磁場(chǎng)；
C．高頻磁場(chǎng)；
D．以上都是
最新試題
在不退磁的情況下，周向磁化產(chǎn)生的剩磁比縱向磁化產(chǎn)生的剩磁有更大的危害性。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：采用軸向通電法和觸頭法磁化時(shí)，為了防止電弧燒傷工件表面，應(yīng)將工件和電極接觸部分清除干凈或在電極上安裝非導(dǎo)電物質(zhì)。
C型靈敏度試片與A型靈敏度試片使用方法相同，只是C型靈敏度試片能用于狹小部位。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：磁粉檢測(cè)時(shí)一般應(yīng)選用A1-60/100型標(biāo)準(zhǔn)試片。
一般說來，進(jìn)行了周向磁化工件的退磁，應(yīng)先進(jìn)行一次縱向磁化。
根據(jù)JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，磁粉檢測(cè)前的工件表面準(zhǔn)備包括打磨表面、安裝接觸墊、封堵盲孔和涂敷反差增強(qiáng)劑。
標(biāo)準(zhǔn)試塊主要用于檢驗(yàn)磁粉檢測(cè)的系統(tǒng)靈敏度，確定被檢工件的磁化規(guī)范。
濕法用磁粉粒度一般比干法小。
材料磁導(dǎo)率低（剩磁大）及直流磁化后，退磁磁場(chǎng)換向的次數(shù)（退磁頻率）應(yīng)較多，每次下降的磁場(chǎng)值應(yīng)較小，且每次停留的時(shí)間（周期）要略長。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：直流退磁法是將需退磁工件放入直流磁場(chǎng)中，逐漸減小電流至零。