A、直打
B、直打和側(cè)打
C、側(cè)打
D、偏斜20°
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A、70°
B、45°
C、37°
D、40°
A、鋼軌探傷儀靈敏度余量和距離幅度特性
B、探頭靈敏度余量和斜探頭楔內(nèi)回波幅度
C、探頭靈敏度余量和直探頭楔內(nèi)回波幅度
D、A與B
A、深度越大,漏磁場強(qiáng)度越高
B、深度越小,漏磁場強(qiáng)度越低
C、深度越小,漏磁場強(qiáng)度越高
D、深度與漏磁場強(qiáng)度無關(guān)
A、無特殊現(xiàn)象存在
B、形成漏磁場
C、磁力線無法通過缺陷而產(chǎn)生反射現(xiàn)象
D、磁力線在缺陷上產(chǎn)生透射和折射現(xiàn)象
A、不變
B、縮短
C、延長
D、適當(dāng)縮短
最新試題
為了提高探傷結(jié)果的可靠性,探傷前應(yīng)對被檢工件的()和形成規(guī)律以及受檢部位的受力方向等進(jìn)行調(diào)查。
使用雙探頭掃查時(shí),如盲目改變掃查方向,將會導(dǎo)致()。
垂直法探傷時(shí),對要求不太高的工件常采用局部法進(jìn)行掃查,局部法掃查一般分為()。
鋼軌探傷車要求嚴(yán)格執(zhí)行()的有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)及規(guī)定,合理設(shè)置檢測參數(shù),動態(tài)保持良好耦合,確保取得可靠的檢測數(shù)據(jù)。
超聲波探傷探頭的型式一般有()等。
剝離層下核傷可采用軌顎法進(jìn)行校對,用軌顎校對法校對時(shí),需在鋼軌表面校對的靈敏度的基礎(chǔ)上增加()。
探傷中采用軌頭側(cè)面校對法,它主要適用于()的校對。
探頭移動過程中同時(shí)作()轉(zhuǎn)動,稱為擺動掃查。
通用儀器對焊補(bǔ)層的下核傷是以核傷最高反射回波的80%再增益12dB作為校對靈敏度,以最大回波顯示的刻度來確定()。
由于各種試件的結(jié)構(gòu)、質(zhì)量要求不同,可能缺陷的()不一樣,因而探測面可能是試件的所有面,也可能是其中的幾個(gè)面,甚至只有一個(gè)可探測面。