60kg/m與75kg/m軌頭寬度極限偏差為（）

采用兩個斜探頭（一收一發(fā)）交叉（）的掃查方式叫做交叉掃查。

由于各種試件的結(jié)構(gòu)、質(zhì)量要求不同，可能缺陷的（）不一樣，因而探測面可能是試件的所有面，也可能是其中的幾個面，甚至只有一個可探測面。

探傷中探頭晶片尺寸增加，相應(yīng)的（）對探傷有利。

探傷工技師對設(shè)備調(diào)整中的（）的相關(guān)知識應(yīng)了解。

探傷工藝流程中探傷技術(shù)規(guī)范主要指的是（）

耦合劑應(yīng)選擇容易附著在試件的表面上，有足夠的浸潤性以排除（）之間由于表面粗糙造成的空氣間隙。

探傷掃查過程中，探頭的方向應(yīng)根據(jù)（）進行布局和掃查。

為了提高探傷結(jié)果的可靠性，探傷前應(yīng)對被檢工件的（）和形成規(guī)律以及受檢部位的受力方向等進行調(diào)查。

使用雙探頭掃查時，如盲目改變掃查方向，將會導(dǎo)致（）。