A.能使被檢測對象(缺陷)能動地參加到檢測過程之中
B.能立即知道缺陷的發(fā)生時間
C.發(fā)射頻率高
D.全具有
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A.光能
B.機械能
C.X—射線
D.電磁波
A.不必再用其他手段檢驗
B.再用目視檢查就可放行
C.再經(jīng)渦流檢驗就通過
D.必須按技術(shù)要求進行其他方法的檢驗
A.必須按質(zhì)保程序進行
B.可以不納入質(zhì)量保證系統(tǒng)
C.檢驗靈敏度越高越好
D.設(shè)備是合格品就行
A.探傷儀
B.探頭
C.記錄儀
D.上述三種部件
A.傳動裝置標(biāo)定
B.標(biāo)準(zhǔn)試樣板的標(biāo)定
C.探測系統(tǒng)綜合標(biāo)定
D.上述三種
最新試題
儀器水平線性影響()。
超聲波儀時基線的水平刻度與實際聲程成正比的程度,即()。
用折射角β的斜探頭進行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
實際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時,在第一次底波之后,還有2個特定位置的反射波,這種波是()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點,說法錯誤的是()。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時,需要進行傳輸修正。
底波計算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進行靈敏度校準(zhǔn)。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。
()可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。