許多電子產(chǎn)品的壽命分布一般服從（）。它在（）研究中是最常用的一種分布形式。

小樣本一般是指（）。

獨(dú)立重復(fù)試驗(yàn)中，試驗(yàn)首次成功所需的試驗(yàn)次數(shù)服從（）。

總體服從正態(tài)分布，方差未知，小樣本時(shí)采用（）建立總體均值的的置信區(qū)間。

列聯(lián)表是（）變量進(jìn)行交叉分類的頻數(shù)分布表，它包含有（）頻數(shù)和（）頻數(shù)?？ǚ綑z驗(yàn)通常被用來檢驗(yàn)列聯(lián)表（）。

假設(shè)檢驗(yàn)中的兩類錯(cuò)誤為（）和（） 。對(duì)于一定的樣本量n，（）同時(shí)做到減小犯這兩種錯(cuò)誤的概率。

（）用于方差分析、協(xié)方差分析和回歸分析等。

最小二乘法預(yù)測模型包括（）、（）和（）。

當(dāng)檢驗(yàn)?zāi)撑a(chǎn)品質(zhì)量時(shí)，從這批產(chǎn)品中隨機(jī)每次抽取一件，共抽n次，而抽出每一件后均不放回到這批產(chǎn)品中去。那么共抽取n件產(chǎn)品試驗(yàn)中恰好有k件不合格品的概率服從（）。

假設(shè)檢驗(yàn)分為（）和（）。