許多電子產(chǎn)品的壽命分布一般服從（）。它在（）研究中是最常用的一種分布形式。

有趨勢的時間序列預(yù)測應(yīng)用（）和（）。

在產(chǎn)品抽樣檢驗和控制圖分析中經(jīng)常用到（）。

在實際問題中，當(dāng)我們無法區(qū)分在區(qū)間[a，b]內(nèi)取值的隨機變量X取不同值的可能性有何不同時，我們就可以假定X服從[a，b]上的（）。

依據(jù)（），來自不同總體的樣本均值的抽樣分布，隨著樣本容量的逐漸增加，趨于一種分布——（）。

卡方檢驗通常被用在（）、（）。

相關(guān)關(guān)系按照相關(guān)的方向不同分為（）和（）；按照相關(guān)形式不同分為（）和（）；按相關(guān)程度分為（）、（）和（）。

（）開創(chuàng)了小樣本方法的研究。

最小二乘法預(yù)測模型包括（）、（）和（）。

當(dāng)檢驗?zāi)撑a(chǎn)品質(zhì)量時，從這批產(chǎn)品中隨機每次抽取一件，共抽n次，而抽出每一件后均不放回到這批產(chǎn)品中去。那么共抽取n件產(chǎn)品試驗中恰好有k件不合格品的概率服從（）。