單項選擇題TOFD可檢測到的()
A.只有埋藏缺陷
B.只有表面開口缺陷
C.各種缺陷,幾乎與指向性無關(guān)
D.只有面積性缺陷
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1.單項選擇題與常規(guī)超聲波檢測技術(shù)相比,以下哪一條不是TOFD技術(shù)的優(yōu)點()
A.可行性更高
B.定量精度更高
C.檢測效率更高
D.缺陷定性更準(zhǔn)確
2.單項選擇題以下哪些因素會影響TOFD技術(shù)對缺陷定量的準(zhǔn)確性()
A.缺陷與標(biāo)準(zhǔn)反射體的形狀和表面粗糙度不同
B.工件與標(biāo)準(zhǔn)試塊的表面粗糙度不同,操作時對探頭的壓緊力改變
C.缺陷的傾斜角度
D.以不均不會
3.單項選擇題要想使平行掃查的B-scan圖中缺陷的衍射信號曲線凸起更明顯,可以采取的措施是()
A.采用較小的PCS和較窄的波束寬度
B.采用較小的PCS和低的頻率
C.采用較大的PCS和較窄的波束寬度
D.采用較大的PCS和較高的頻率
4.單項選擇題采用平行掃查檢測平板對接焊縫中的未熔合缺陷,不能得到的缺陷信息是()
A.缺陷的長度
B.缺陷的高度
C.缺陷距焊縫中線的距離
D.缺陷的傾斜角度
5.單項選擇題以下哪一條不是非平行掃查的優(yōu)點()
A.一次掃查能夠?qū)崿F(xiàn)大范圍檢測,效率高
B.能同時得到缺陷長度和高度數(shù)據(jù)
C.焊縫余高不影響掃查,操作方便
D.定位定量準(zhǔn)確
最新試題
一般認(rèn)為表面波探測的有效深度約為()
題型:單項選擇題
當(dāng)射線穿透任何一物體時,部分被物體吸收,部分則穿透該物體,還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射,此散射為()
題型:單項選擇題
某超聲波探頭,壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm,則該探頭工作頻率為()
題型:單項選擇題
對于平行于檢測面的缺陷,一般采用()檢測。
題型:單項選擇題
探頭的分辨力()
題型:單項選擇題
在筒身外壁做曲面周向探傷時(r、R為簡體的內(nèi)、外徑),斜探頭(β為折射角)的臨界角應(yīng)滿足()
題型:單項選擇題
發(fā)生康普頓散射的條件是()
題型:單項選擇題
影響較大的散射線通常來自()
題型:單項選擇題
最容易發(fā)生康普頓效應(yīng)的射線能量為()
題型:單項選擇題
原子是元素的具體存在,是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。
題型:判斷題