A.缺陷與標(biāo)準(zhǔn)反射體的形狀和表面粗糙度不同
B.工件與標(biāo)準(zhǔn)試塊的表面粗糙度不同,操作時(shí)對(duì)探頭的壓緊力改變
C.缺陷的傾斜角度
D.以不均不會(huì)
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.采用較小的PCS和較窄的波束寬度
B.采用較小的PCS和低的頻率
C.采用較大的PCS和較窄的波束寬度
D.采用較大的PCS和較高的頻率
A.缺陷的長(zhǎng)度
B.缺陷的高度
C.缺陷距焊縫中線的距離
D.缺陷的傾斜角度
A.一次掃查能夠?qū)崿F(xiàn)大范圍檢測(cè),效率高
B.能同時(shí)得到缺陷長(zhǎng)度和高度數(shù)據(jù)
C.焊縫余高不影響掃查,操作方便
D.定位定量準(zhǔn)確
A.可增大檢測(cè)范圍
B.可提高缺陷高度測(cè)量的精度
C.可消除表面盲區(qū)
D.可改進(jìn)缺陷定位
A.TOFD衍射信號(hào)的振幅顯著下降,缺陷難以檢出
B.TOFD衍射信號(hào)的振幅輕微下降,一般不影響檢出
C.TOFD衍射信號(hào)的振幅顯著上升,對(duì)檢出有利
D.以上都不對(duì)
最新試題
最容易發(fā)生康普頓效應(yīng)的射線能量為()
不同材料的相對(duì)吸收系數(shù)()
對(duì)軸類(lèi)鋼制鍛件,用2.5P14的直探頭,在圓周面上用底波作基準(zhǔn)反射而進(jìn)行靈敏度調(diào)整時(shí),該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于()
底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是()
底片的最佳黑度值與觀片燈的亮度有關(guān),觀片燈亮度改變,最佳黑度值也將改變。
底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是()
超聲波斜探頭的K值等于()的正切值。
對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷,一般采用()檢測(cè)。
射線照片上細(xì)節(jié)影像的可識(shí)別性主要決定于()
下列對(duì)耦合劑應(yīng)該具有的特點(diǎn)的描述,不正確的一項(xiàng)是()