A.放大線性,分辨力,示波管屏幕尺寸
B.放大線性,分辨力,盲區(qū)
C.放大線性,時(shí)間軸線性,分辨力
D.發(fā)射功率,耗電功率,重量
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A.較低頻率探頭和較粘的耦合劑
B.較低頻率探頭和粘度較小的耦合劑
C.較高頻率探頭和較粘的耦合劑
D.較高頻率探頭和粘度較小的耦合劑
A.50萬輛
B.60萬輛
C.70萬輛
D.90萬輛
A.當(dāng)量法
B.缺陷回波高度法
C.底面回波高度法
D.延伸度定量評定法
A.是所加電脈沖持續(xù)時(shí)間的函數(shù)
B.是儀器接收器放大特性的函數(shù)
C.是晶片厚度的函數(shù)
D.以上都不對
A.大于入射角
B.小于入射角
C.等于入射角
D.在臨界角之外
最新試題
二次波檢測是一種特殊的檢測工藝,以下關(guān)于二次波檢測的做敘述,哪一條是錯(cuò)誤的()
對于鉬靶X射線管,在管電壓低于()千伏時(shí)是不會產(chǎn)生特征X射線的。
底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是()
下列對耦合劑應(yīng)該具有的特點(diǎn)的描述,不正確的一項(xiàng)是()
對于平行于檢測面的缺陷,一般采用()檢測。
一般認(rèn)為表面波探測的有效深度約為()
最容易發(fā)生光電效應(yīng)的射線能量為()
射線照片上細(xì)節(jié)影像的可識別性主要決定于()
底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是()
一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線,穿過一個(gè)厚度為X的物質(zhì),其強(qiáng)度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數(shù),此式代表什么現(xiàn)象()