A.當(dāng)量法
B.缺陷回波高度法
C.底面回波高度法
D.延伸度定量評(píng)定法
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.是所加電脈沖持續(xù)時(shí)間的函數(shù)
B.是儀器接收器放大特性的函數(shù)
C.是晶片厚度的函數(shù)
D.以上都不對(duì)
A.大于入射角
B.小于入射角
C.等于入射角
D.在臨界角之外
A.入射縱波軸線與通過(guò)入射點(diǎn)法線的夾角
B.入射橫波軸線與通過(guò)入射點(diǎn)法線的夾角
C.傾斜晶片與探測(cè)面的夾角
D.入射波軸線與界面的夾角
A.0.2mm
B.0.4mm
C.0.8mm
D.1.6mm
A.水溫升高,聲速變大
B.水溫升高,聲速變小
C.水溫升高,聲速不變
D.呈波浪型變化
最新試題
底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是()
底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是()
在筒身外壁做曲面周向探傷時(shí)(r、R為簡(jiǎn)體的內(nèi)、外徑),斜探頭(β為折射角)的臨界角應(yīng)滿足()
調(diào)節(jié)掃描速度時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。
射線照片上一個(gè)細(xì)節(jié)的影像是否能被眼睛識(shí)別出來(lái),最主要的是決定于()
以下耦合劑中,可用于粗糙表面檢測(cè)的是()
發(fā)生康普頓散射的條件是()
最容易發(fā)生光電效應(yīng)的射線能量為()
二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝,以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述,哪一條是錯(cuò)誤的()
光電效應(yīng)發(fā)生的機(jī)率隨什么變化()