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半導(dǎo)體材料的缺陷主要有()
答案:
點缺陷、位錯、層錯、孿晶
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集成電路用單晶硅的主要制備方法是()
答案:
提拉法和區(qū)熔法
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摩爾定律的主要內(nèi)容是()。
答案:
晶體管特征尺寸每三年減小到約70%,30年內(nèi)有效,也可表示為集成電路的特征尺寸每三年縮小30%;集成度每三年翻二翻,集成...
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